Методы исследования магнитных свойств материалов на синхротронах и нейтронных источниках
Краткое содержание
Целью данного спецкурса является формирование у аспирантов систематического представления о современных методах исследования магнитных материалов с использованием синхротронного рентгеновского излучения и нейтронных пучков, а также освоение принципов планирования, проведения и интерпретации экспериментов на крупных исследовательских установках.
В курсе рассматриваются физические основы взаимодействия рентгеновского излучения и нейтронов с магнитно-упорядоченным веществом; методы XAS, XMCD и XMLD, резонансное магнитное рассеяние и дифракция, магнитная нейтронная дифракция, поляризационный анализ, малоугловое и неупругое рассеяние нейтронов, нейтронная и рентгеновская рефлектометрия. Особое внимание уделяется элементной и подрешеточной селективности, определению спиновых и орбитальных магнитных моментов, восстановлению магнитной структуры и исследованию магнитной динамики. Рассматриваются вопросы выбора экспериментальной геометрии, окружения образца, обработки данных, оценки артефактов и подготовки заявок на проведение эксперимента.
В курсе рассматриваются физические основы взаимодействия рентгеновского излучения и нейтронов с магнитно-упорядоченным веществом; методы XAS, XMCD и XMLD, резонансное магнитное рассеяние и дифракция, магнитная нейтронная дифракция, поляризационный анализ, малоугловое и неупругое рассеяние нейтронов, нейтронная и рентгеновская рефлектометрия. Особое внимание уделяется элементной и подрешеточной селективности, определению спиновых и орбитальных магнитных моментов, восстановлению магнитной структуры и исследованию магнитной динамики. Рассматриваются вопросы выбора экспериментальной геометрии, окружения образца, обработки данных, оценки артефактов и подготовки заявок на проведение эксперимента.